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專注環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的研發(fā)與生產(chǎn)
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可靠性試驗(yàn)靈敏度分析方法2 可靠性試驗(yàn)靈敏度分析方法 2 定義在所有微元體與結(jié)構(gòu)失效邊界的交點(diǎn)中概率密度最大的點(diǎn)為近似設(shè)計(jì)點(diǎn)，由均值點(diǎn)到近似設(shè)計(jì)點(diǎn)的單位方向向量為重要方向 。 以 表示過 中心 點(diǎn) 且垂直于 重要方向 的超平面， 由 式確定 其中 和 分別表示 和 的第 個(gè)分量。 定義
可靠性試驗(yàn)靈敏度分析方法1 可靠性試驗(yàn)靈敏度分析方法 1 在標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)空間中，笛卡兒坐標(biāo)系下任意隨機(jī)向量 可以用極坐標(biāo)表示為 ，式中 為極半徑， 為 的單位方向向量。 是由函數(shù) 確定的，則根據(jù)隱式函數(shù)求導(dǎo)法則可得 [5] 其中 。 對于二維變量情況，將式代入式可以得到結(jié)構(gòu)的可靠性試驗(yàn)靈
可靠性試驗(yàn)靈敏度分析的降階積分法 可靠性試驗(yàn)靈敏度分析的降階積分法 可靠性試驗(yàn)靈敏度定義為失效概率對基本隨機(jī)變量分布參數(shù)的偏導(dǎo)數(shù) [3,4] 。失效概率對第 個(gè)變量 的分布參數(shù) 的可靠性試驗(yàn)靈敏度可表示成式所示的形式。 在 5.1 節(jié)中已經(jīng)給出了原坐標(biāo)空間轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)坐標(biāo)空間的失效概率的
多模式的降階積分法 多模式的降階積分法 降階積分法同樣能夠求解結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效概率，設(shè)系統(tǒng)由 個(gè)失效模式組成，對結(jié)構(gòu)系統(tǒng)按照單模式的情形將坐標(biāo)空間離散為眾多微元體，與單模式不同的是每個(gè)微元體與結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效域的交點(diǎn)處的特征半徑（仍以 表示之）需按下面的方法確定。
可靠性試驗(yàn)分析的降階積分法 可靠性試驗(yàn)分析的降階積分法 由于非正態(tài)相關(guān)隨機(jī)變量可以轉(zhuǎn)化為正態(tài)獨(dú)立隨機(jī)變量，本章仍主要討論相互獨(dú)立的正態(tài)隨機(jī)變量情況的結(jié)構(gòu)的可靠性試驗(yàn)靈敏度分析。 假設(shè)所研究問題包含的 維基本變量 相互獨(dú)立且均服從正態(tài)分布， ， 和 分別為 的均值與標(biāo)準(zhǔn)差。以
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