降階積分法同樣能夠求解結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效概率,設(shè)系統(tǒng)由個失效模式組成,對結(jié)構(gòu)系統(tǒng)按照單模式的情形將坐標(biāo)空間離散為眾多微元體,與單模式不同的是每個微元體與結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效域的交點處的特征半徑(仍以表示之)需按下面的方法確定。
其中為微元體與第個失效模式對應(yīng)的失效邊界交點處的特征半徑。如圖5.2所示。
圖5.2 多模式的降階積分法示意圖
按上面的方法確定每個微元體與結(jié)構(gòu)系統(tǒng)失效邊界的交點處的特征半徑,將其代入式或式,進(jìn)而通過式即可求得結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效概率。